x射線發生裝置的分類

X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。單晶衍射儀的被測對象為單晶體試樣，主要用于確定未知晶體材料的晶體結構。基本原理：在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律，也即解出晶體的結構。

x射線發生裝置角度校準的光學新方法

目前x射線發生裝置的角度檢定和校準測試主要依據JJG 629—1989《多晶X射線衍射儀檢定規程》和JB/T 9400—2010《X射線衍射儀技術條件》等技術文件,具體方法是采用光學經緯儀或多面棱體等進行測試,該測量方法實際應用中存在一定難度,其次測量間隔較大,不能很好反映真實的角度誤差規律.為此,提出了利用θ角和2θ角同軸并可獨立運動的特點,組合采用光電自準直儀和小角度激光干涉儀等儀器,設計了一種新的XRD的角度校準方法,它能夠自動快速地連續測量角度,取k=2時,擴展不確定度約1.2″.使用該方法測試能夠得到θ和2θ軸的誤差數據,可用于修正XRD測角誤差,提高XRD測試精度.該方法也適用于同步輻射等大型衍射系統等其他需要角度校準的情況.

x射線發生裝置-涂層應用

現代生活的每個環節都得益于涂層或薄膜技術。無論是集成電路芯片上的阻擋層薄膜還是鋁制飲料罐上的涂層，X射線是研發，產品過程控制和不可缺少的分析技術。作為納米技術研究，X射線衍射(XRD)和附屬技術被用于確定薄膜分子結構的性質。理學的技術和經驗為涂層和薄膜測量提供各種無損分析解決方案。

x射線發生裝置-地質,礦產

在研究行星進程和地球構造過程中，地理學家們需要分析巖石和礦物樣品的組成。X射線衍射儀分析技術如：小點激發，分布分析和無標定量分析，日漸成為地質研究及礦物學研究領域內的主要儀器。X射線衍射儀(XRD)可定量測量相組成。X射線衍射數據的Rietveld分析被認為是晶體相定量分析適合的方法。技術和經驗為這些判定提供了一系列解決方案。