分貝的定義：

分貝數(shù)=10

P1、P2是兩個(gè)功率數(shù)值，對(duì)于電流或電壓，定義如下：

電壓增益的分貝數(shù)=20lg(V2/V1)

電流增益的分貝數(shù)=20lg(I2/I1)

電壓：用1V、1mV 、1mV為參考（例如：1mV= 0dBmV ），則單位為：dBV、dBmV、dBmV等

電流：用1A、1mA、1mA為參考，則單位為：dBA、dBmA、dBmA

場(chǎng)強(qiáng)：用1V/m、1mV/m為參考，則單位為：dBV/m、dBmV/m等

功率：用1W、1mW為參考，則單位為：dBW、dBmW等

靜電放電抗擾度試驗(yàn)

標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)

IEC 61000 - 4 - 2

EN 61000 - 4 - 2

GB/T 17626.2

試驗(yàn)?zāi)康?/p>

模擬操作人員或物體在接觸設(shè)備時(shí)放電及人或物體對(duì)鄰近物體的放電，以考察被試設(shè)備抵抗靜電放電干擾能力。前者是通過(guò)導(dǎo)體直接耦合，屬于直接放電影響。 后者是通過(guò)空間輻射耦合，屬于間接放電影響。

試驗(yàn)設(shè)備

靜電脈沖發(fā)生器

試驗(yàn)等級(jí)（嚴(yán)酷度等級(jí)）

試驗(yàn)原理

靜電放電電流的典型波形

靜電放電電流的典型波形參數(shù)

立式設(shè)備實(shí)驗(yàn)室配置圖

試驗(yàn)環(huán)境條件

環(huán)境溫度：15 ~ 35 ℃

相對(duì)濕度：30 ~ 60 %

大氣壓力：86~106 kPa

試驗(yàn)的實(shí)施

接觸放電使用尖形放電電極，空氣放電使用圓形放電電極；

優(yōu)先采用接觸放電；

直接放電試驗(yàn)，放電電極直接對(duì)被試設(shè)備進(jìn)行放電試驗(yàn)。試驗(yàn)對(duì)象包括用戶在使用中可能觸及到的任何地方以及在帶電維護(hù)和校正時(shí)可能觸及的地方。如：金屬簧i片、機(jī)殼、機(jī)框、按 鍵、螺絲、指示燈、開(kāi)關(guān)等；

間接放電試驗(yàn)可對(duì)水平耦合板和垂直耦合板進(jìn)行放電；

試驗(yàn)速率 1 次/s，每個(gè)放電點(diǎn)至少在正負(fù)極性各放電10 次。

試驗(yàn)結(jié)果判定

a. 在試驗(yàn)過(guò)程中，設(shè)備的工作完全正常 設(shè)備的工作完全正常。

b. 在試驗(yàn)中，設(shè)備受干擾影響產(chǎn)生了暫時(shí)性的功能降低，但撤消干擾后，設(shè)備的功能可

以自動(dòng)恢復(fù)正常。

c. 在試驗(yàn)中，設(shè)備受干擾影響產(chǎn)生了暫時(shí)性的功能降低，但干擾撤消后，設(shè)備的功能需

要人工復(fù)位后方能恢復(fù)。

d. 在試驗(yàn)中，受干擾的設(shè)備產(chǎn)生了不可逆轉(zhuǎn)的損傷，包括元器件的損傷 、軟件或數(shù)據(jù)

丟失等。

對(duì)于情形a、b，判為合格。

對(duì)于情形c、d，判為不合格。

雷擊浪涌抗擾性試驗(yàn)

標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)

IEC61000 - 4 - 5

EN61000-4-5

GB/T17626.5

試驗(yàn)?zāi)康?/p>

評(píng)價(jià)被測(cè)設(shè)備遭受電力線路和互聯(lián)線路上大能量騷擾的性能。此試驗(yàn)一般用來(lái)模擬被測(cè)設(shè)備在不同環(huán)境下遇到的間接雷擊，或開(kāi)關(guān)切換過(guò)程中所造成的電壓和電流浪涌 。

試驗(yàn)設(shè)備

雷擊浪涌信號(hào)發(fā)生器

耦合去耦網(wǎng)絡(luò)

試驗(yàn)等級(jí)（嚴(yán)酷度等級(jí)）

試驗(yàn)原理

試驗(yàn)的實(shí)施

選擇與被試端口相應(yīng)的耦合網(wǎng)絡(luò)。電源端口、無(wú)屏蔽通信線路端口、無(wú)屏蔽互聯(lián)線路端口都有相應(yīng)不同的耦合網(wǎng)絡(luò)。

在每個(gè)選定部位上，正負(fù)極性的干擾至少要各加 5 次，每次間隔1min。

浪涌沖擊必須施加到線-線和線-地，進(jìn)行線-地試驗(yàn)時(shí)，如果沒(méi)有其它規(guī)定，試驗(yàn)電壓必須逐次地施加到每—線路和地之間。

試驗(yàn)結(jié)果判定

對(duì)于情形a、b，判為合格。

對(duì)于情 形c、d，判為不合格。

浪涌抗擾度試驗(yàn)所依據(jù)的是IEC61000-4-5:2005，對(duì)應(yīng)是GB/T17626.2:200X《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)》。 浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)就是模擬雷擊帶來(lái)的干擾影響，但需要指出的是，考核設(shè)備電磁兼容性能的浪涌抗擾度試驗(yàn)不同于考核設(shè)備高壓絕緣能力的耐壓試驗(yàn)，前者jj是模擬間接雷擊的影響（直接的雷擊設(shè)備通常都無(wú)法承受）。1.2浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)?zāi)康? 本標(biāo)準(zhǔn)的目的是建立一個(gè)共同的基準(zhǔn)，以評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌(沖擊)時(shí)的性能。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一個(gè)一致的試驗(yàn)方法，以評(píng)定設(shè)備或系統(tǒng)對(duì)規(guī)定現(xiàn)象的抗擾度。